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Protect Your High-Speed Circuits From ESD Transients

机译:保护高速电路免受ESD瞬变的影响

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摘要

Electrostatic discharge (ESD) frequently occurs in nature, and in the electronics equipment environment, with very damaging results. Indeed, it's responsible for more than 25% of the semiconductor chip damage happening during wafer fab, through various stages of circuit assembly, and on the completed and in-use electronics equipment. Typically, the discharge stems from a human body part (finger) being in close proximity to electrically charged dissimilar materials, and then subsequently to conductive contact points attached to electronic devices. At best, this causes damaged ICs and warranty claims against the manufacturers of the end-user devices.
机译:静电放电(ESD)在自然界和电子设备环境中经常发生,造成非常严重的后果。的确,在晶圆制造期间,通过电路组装的各个阶段以及已完成和在使用中的电子设备中,半导体芯片所造成的损坏占25%以上。通常,放电源自人体部分(手指),该人体部分非常接近带电的异种材料,然后接近附着在电子设备上的导电触点。充其量,这会导致IC损坏,并导致最终用户设备制造商的保修索赔。

著录项

  • 来源
    《Electronic Design》 |2002年第14期|p.53-5456|共3页
  • 作者

    Thomas G. Nagy;

  • 作者单位

    Cooper Electronic Technologies, Boynton Beach, Fla., the electronics business unit of Cooper Bussmann;

  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

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