机译:纳米CMOS技术中线边缘粗糙度(LER)和线宽粗糙度(LWR)的研究:第一部分–建模和仿真方法
Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, China|c|;
Auto-correlation function; cross-correlation; line-edge-roughness (LER); line-width-roughness (LWR); modeling; variability;
机译:纳米级CMOS技术中线边缘粗糙度(LER)和线宽粗糙度(LWR)的研究:第二部分-实验结果及其对器件可变性的影响
机译:线边缘和线宽粗糙度的统计模型,用于设备变异性分析
机译:图像噪声对线边缘和线宽粗糙度离散功率谱的影响
机译:纳米CMOS技术中线边缘粗糙度(LER)和线宽粗糙度(LWR)之间的相关性研究
机译:极紫外光刻中掩模的粗糙度引起的线边缘粗糙度
机译:EUV光刻胶的分子模型揭示了链构象对线边缘粗糙度形成的影响
机译:掺杂量波动与线边缘粗糙度阈值变化的统计建模与仿真