机译:AlGaN / GaN HEMT的高温操作直接耦合FET逻辑(DCFL)集成电路
$hbox{CF}_{4}$ plasma treatment; AlGaN/GaN; IC; direct-coupled FET logic (DCFL); enhancement mode (E-mode); high electron mobility transistor (HEMT); high-temperature electronics; threshold voltage;
机译:平面集成增强/耗尽模式Algan / gan Hemts和数字电路的温度依赖性和热稳定性
机译:高温运行测试分析AlGaN / GaN HEMT的降解
机译:0.1μmAlGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺的改进大信号模型及其在W波段实用单片微波集成电路(MMIC)设计中的应用
机译:D型AlGaN / GaN MIS-HEMT的刻蚀深度对10 V输入直接耦合FET逻辑(DCFL)逆变器的DC和AC特性的影响
机译:分析影响ALGaN / GaN HEMT安全运行的故障机理。
机译:0.1μmAlGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺的改进大信号模型及其在W波段实用单片微波集成电路(MMIC)设计中的应用
机译:0.1μmAlgan/ GaN高电子迁移率(HEMTS)工艺的改进的大信号模型及其在W频段中实际单片微波集成电路(MMIC)设计中的应用