机译:通过导电丝的横向溶解来克服RESET电流和RRAM数据保持之间的难题
Laboratory of Nano-Fabrication and Novel Devices Integrated Technology, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China|c|;
Conductive filament; low power; planar structure; resistive random access memory (RRAM); side-RESET;
机译:通过分析基于氧化物的RRAM中复位过程中的电场效应来确认灯丝溶解行为
机译:细丝扩散模型,用于模拟RRAM中的重置和保留过程
机译:设置电流与复位电压的组合调制,可实现基于细丝的RRAM 2位/单元性能
机译:导电灯丝切换分析和基于NIO的RRAM复位的自我加速热溶解模型
机译:Cu / HfO2 / Pt RRAM器件复位过渡时的细丝结构演变分析
机译:Cu / HfO2 / Pt RRAM器件复位过渡时的细丝结构演变分析