机译:有效的DRAM地址重新映射以减轻Rowhammer错误
Seoul Natl Univ, Dept Elect & Comp Engn, Interuniv Semicond Res Ctr, Seoul 08826, South Korea;
Seoul Natl Univ, Dept Elect & Comp Engn, Interuniv Semicond Res Ctr, Seoul 08826, South Korea;
Seoul Natl Univ Sci & Technol, Res Ctr Elect & Informat Technol, Dept Elect & Informat Engn, Seoul 01811, South Korea;
Seoul Natl Univ, Dept Elect & Comp Engn, Interuniv Semicond Res Ctr, Seoul 08826, South Korea;
DRAM; rowhammer error; fault tolerance; reliability;
机译:用于缓解行的有效DRAM地址重新映射
机译:环绕栅极晶体管,具有外延生长的Si柱和DRAM软误差和行波的仿真研究
机译:在DRAM子系统中寻址多个位/符号错误
机译:回顾RowHammer:现代DRAM器件和缓解技术的实验分析
机译:在DRAM /内存子系统中寻址多个错误
机译:位置细胞活动的多振荡器模型中的感官反馈错误校正和重新映射
机译:重新审视Rowhammer:现代DRAM设备的实验分析和缓解技术
机译:拉丁美洲:关闭后门!美国南方司令部(UssC)FY03-05战区安全合作战略指导(TsCsG)是否足以解决和减轻恐怖分子和恐怖主义组织在UssC责任区(aOR)居住的威胁日益加剧