机译:低电阻引线的金属包装的热变形和应力可靠性研究
Finite element method (FEM); laser speckle interferometry; packaging; reliability; thermal factors;
机译:热老化对无铅细间距封装热循环可靠性的影响
机译:环氧模塑料对制造过程中IC封装的热/残余变形和应力的影响
机译:具有低和高T / sub g /底部填充的倒装BGA封装的热变形和应力
机译:低电阻高电流金属包装的热变形和热应力的可靠性研究
机译:电子封装的热变形以及封装对铜/低k互连结构的可靠性的影响。
机译:非线性肌动蛋白变形导致网络变硬,屈服和应力传播不均匀
机译:倒装芯片封装的可靠性^ ^ mdash;倒装芯片关节的热应力^ ^ mdash;