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Direct-band-gap Ga(NAsP)-material system pseudomorphically grown on GaP substrate

机译:在GaP衬底上拟态生长的直接带隙Ga(NAsP)材料系统

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摘要

Compressively strained Ga(NAsP) multi-quantum-well heterostructures with As concentration above 85% have been grown pseudomorphically on GaP substrates by metal organic vapor phase epitaxy. Detailed structural analysis applying high-resolution x-ray diffraction proves the high crystalline perfection of the samples. Optical spectroscopy appyling photoluminescence and excitation spectroscopy verify the direct-band-gap characteristic of this novel material system. The comparison of the experimental data with elemental calculations via the band anticrossing model demonstrates that the formation of direct band structure can be understood by the strong bowing of the band gap energy typical for diluted Ⅲ-Ⅴ nitrides.
机译:通过有机金属气相外延在GaP衬底上假晶生长了砷浓度高于85%的压缩应变Ga(NAsP)多量子阱异质结构。使用高分辨率X射线衍射进行的详细结构分析证明了样品的高结晶度。应用于光致发光和激发光谱的光谱学证实了这种新型材料系统的直接带隙特性。通过能带反交叉模型将实验数据与元素计算结果进行比较,结果表明,可以通过稀释的Ⅲ-Ⅴ族氮化物典型的带隙能的强弯曲来理解直接能带结构的形成。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2006年第18期|p.182108.1-182108.3|共3页
  • 作者单位

    Material Sciences Center and Department of Physics, Philipps-University, D-35032 Marburg, Germany;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

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