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【24h】

Phase transition of ultrathin AlN interlayer at AlGaN/GaN interface

机译:AlGaN / GaN界面处的超薄AlN中间层的相变

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摘要

The authors report the wurtizite to zinc-blende phase transition of ultrathin AlN interlayer at the interface of AlGaN/GaN. The shape transformation of the pinhole from hexagon to dodecagon exhibits the structural transition of the interfacial layer, where exists an AlN segregation interlayer. By transmission electron diffraction, the structure of AlN interlayer is determined to be zinc blende. Ab initio simulations demonstrate that the epitaxial strain favors the formation of the high Al segregation and the phase transition.
机译:作者报告了在AlGaN / GaN界面处超薄AlN中间层的符日石到闪锌矿的相变。针孔从六边形到十二边形的形状转变表现出界面层的结构转变,该界面层存在AlN偏析夹层。通过透射电子衍射,确定AlN中间层的结构为锌共混物。从头算模拟表明,外延应变有利于高Al偏析和相变的形成。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2007年第12期|p.121909.1-121909.3|共3页
  • 作者

    Duanjun Cai; Junyong Kang;

  • 作者单位

    Department of Physics, Xiamen University, Xiamen 361005, China;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:21:01

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