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Deep/shallow levels in arsenic-doped HgCdTe determined by modulated photoluminescence spectra

机译:调制光致发光光谱测定砷掺杂的HgCdTe中的深/浅水平

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摘要

The modulated photoluminescence spectra have been performed on as-grown and in situ annealed arsenic-doped Hg_(1-x)Cd_xTe grown by molecular beam epitaxy. Besides the discussions about shallow levels including V_(Hg), As_(Hg), V_(Hg)-As_(Hg) complex, and Te_(Hg), two deep levels have been observed in as-grown with an ionization energy of ~77.0 and ~95.0 meV, respectively, which can be completely eliminated by annealing and temporarily ascribed to As-related clusters or interstitials.
机译:已对通过分子束外延生长的原位退火和砷掺杂的Hg_(1-x)Cd_xTe进行了调制的光致发光光谱。除了讨论包括V_(Hg),As_(Hg),V_(Hg)-As_(Hg)络合物和Te_(Hg)的浅能级之外,还观察到了两个较深的能级,其电离能为〜 77.0和〜95.0 meV,可以通过退火完全消除,并暂时归因于与As相关的簇或间隙。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters 》 |2008年第13期| 85-87| 共3页
  • 作者

    Fangyu Yue; Jun Wu; Junhao Chu;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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