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Theoretical and Experimental Study on AlGaN/GaN Schottky Barrier Diode on Si Substrate with Double-Heterojunction

机译:双异质结硅衬底上AlGaN / GaN肖特基势垒二极管的理论和实验研究

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摘要

Cross section of the proposed double-heterojunction AlGaN/GaN SBD and main fabrication process. is the length of anode to cathode. and are 1 μm and 2 μm, respectively. HR-TEM image of the anode after ICP and metal deposition
机译:拟议的双异质结AlGaN / GaN SBD的截面及其主要制造工艺。是阳极到阴极的长度。和分别为1μm和2μm。 ICP和金属沉积后阳极的HR-TEM图像

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