无损检测桃子电特性的试验研究

摘要

利用智能ＬＣＲ测量仪和平板电极系统，用无损检测方法测定了桃子在储藏过程中电特性的变化。结果表明，在１２Ｈｚ￣１００ｋＨｚ的频段内，桃子的最佳测试频段为１５ｋＨｚ以下，此时桃子随着储藏时间的增加，等效阻抗增大而相对介电常数和介质损耗因数减小，当桃子开始腐烂时，电特性数值出现了一个大的反复。