用X射线荧光法测定镀金层厚度

摘要

@@ 一、引言rn利用X射线荧光法测定黄金饰品的成色和厚度已很普通[1-3],但在测定中,由于有噪音及其它峰的存在产生本底,同时有时峰值还会移动,这些都会影响测定的准确度.虽然有不少方法用于消除本底,但有的方法过于复杂,有的方法其测定结果不够理想.本文提出了一种新的、简捷的关系曲线法,并利用此方法来测定镀金层厚度,得到了满意的结果.