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使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪测量镀金层厚度的方法研究

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本文根据荧光X射线测厚仪的原理,使用扫描电子显微镜和X线能谱仪结合的方法,尝试在微观区域定位测量连接器镀金层厚度.

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来源
《第二届全国扫描电子显微学会议》|2003年|537-538|共2页
会议地点珠海
作者
贺占平; 周怡琳; 章继高;
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作者单位

中国物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类金属表面防护技术;
关键词
镀金层厚度; 扫描电子显微镜; X射线能谱仪;
入库时间 2022-08-17 11:08:09

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