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目录
1绪 论
1.1背景
1.2国内外研究现状
1.3课题学术意义和应用价值
2微球覆层厚度测量方法的数学模型
2.1 X射线与物质的相互作用
2.2衍射法模型的建立
2.3荧光X射线法模型的建立
2.4模型的计算机实现
3 X射线衍射法和荧光X射线法测量微球覆层厚度
3.1试样的制备
3.2金相法测量覆层厚度
3.3 X射线衍射法测量微球
3.4荧光法测量
3.5几种方法的比较
4结 论
致谢
参考文献
附 录
石泉;
重庆大学;
X射线衍射法; 测量微球; 覆层厚度; 数学模型;
机译:基于互相关函数的各向异性结构影响表面超声波对激光熔覆层厚度的测量
机译:用X射线法测定多晶薄膜的厚度
机译:电镀内应力的测量(11) - 平板的严格测量理论(第3部分:薄层粘附表面照射X射线法)
机译:使用全反射荧光X射线法的最小膜厚度测量装置
机译:用Bison分析U 3Si 2燃料与多层SiC覆层的颗粒-覆层机械相互作用
机译:利用激光雷达荧光法水上放射线法和西南大西洋的海洋颜色MODIS图像同时测量叶绿素浓度
机译:针对视网膜神经纤维层厚度测量的扫描激光降低药物治疗后眼压降低的影响用药物对视网膜神经纤维层厚度测量的影响用于治疗视网膜神经纤维层厚度的影响用药物对视网膜神经纤维层厚度测量的影响用扫描激光进行视网膜神经纤维层厚度测量的影响用药物治疗视网膜神经纤维层厚度青光眼和高血压眼的偏振测量
机译:用于评估管状核燃料元件熔覆层厚度和粘结完整性的自动化系统
机译:能够测量覆层厚度的装置和方法,该覆层厚度能够测量覆层钢板的剩余覆层以防止腐蚀和腐蚀
机译:X射线法测量涂层厚度
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