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翟玉卫; 郑世棋; 刘岩; 梁法国;
中国电子科技集团公司第十三研究所;
河北 石家庄 050051;
半导体器件; 显微红外热成像; 测温; 发射率修正; 空间分辨力; 时间分辨力;
机译:半导体器件关系在与日本半导体制造设备协会相关的第二年半导体器件的九十年半导体器件中的关系。预测
机译:原子力显微镜/扫描电容显微镜在半导体器件注入结构成像中的应用
机译:用于半导体器件的AG-Rouin半导体器件280个H材料的半导体热研究。
机译:半导体器件的实用定量扫描微波阻抗显微镜显微镜
机译:烷烃硫醇自组装单分子层,反应性自组装单分子层,扁平金纳米颗粒/铟锡氧化物基质的生长介质和温度依赖性结构相的扫描隧道显微镜研究,以及互补金属氧化物中局部机械应力表征的扫描表面光电压显微镜研究半导体器件。
机译:用于气体传感的纳米级金属氧化物半导体的合成方法显微表征和器件集成
机译:用于研究半导体器件缺陷的超分辨率光学显微镜
机译:递归梳状滤波器中采样模拟器件的工作原理及应用。
机译:原子力显微镜系统,用于映射位于半导体器件中的一个或多个地下结构的方法,或用于在半导体器件中监测光刻参数以及使用这种原子力显微镜系统
机译:原子力显微镜系统,用于在半导体器件中绘制一个或多个地下结构或用于监视半导体器件中的光刻参数的方法以及此类核电显微镜系统的用途
机译:确定覆盖误差的方法,制造多层半导体器件的方法,原子力显微镜器件,光刻系统和半导体器件
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