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吕红亮; 张义门; 张玉明;
西安电子科技大学微电子研究所;
4H-SiC; 雪崩碰撞; 带间隧穿; 击穿特性; 最大功率密度; 碳化硅器件;
机译:4H-SiC pin二极管的正向电压下降特性和高击穿电压(000-1)C平面4H-SiC pin二极管
机译:研究大块和基本螺钉错位有助于低压(> 250 V)4H-SiC p / sup +/- n结二极管的反向击穿。二。动态击穿特性
机译:可变k介电埋层SOI高压器件的电场和击穿电压的新结构及其解析模型
机译:4H-SiC MOS器件中热生长的SiO 2 inf>电介质的表面形态与击穿特性之间的相关性
机译:用深层瞬态光谱法(DLTS)表征4H-SiC的缺陷及其对器件性能的影响
机译:基于双4H-SiC JBS和SBD器件的高性能温度传感器
机译:4H-SiC晶体缺陷对显微组织和器件特性的影响研究
机译:低压(< 250 V)4H-siC pn结二极管中体积和基本螺旋位错辅助反向击穿的研究 - 第1部分:直流特性
机译:制造能够改善电迁移特性,齐纳电压特性和时间相关介电击穿特性的半导体器件的方法
机译:具有改进的击穿电压特性和导通电阻特性的功率半导体器件
机译:半导体器件,能够改善击穿特性并保持绝缘栅双极晶体管的开关特性和低耐压性
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