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LIU Zhao-yun; YANG Xue-xia;
POP堆叠; 热循环载荷; Anand粘塑性模型; 寿命估算;
机译:振动载荷作用下的堆叠包装堆叠可靠性研究
机译:热循环负荷下POP堆叠芯片组件的热性能和疲劳寿命预测
机译:在谐波载荷下,在电子封装下使用电子封装的无铅焊点(SN-0.5Cu-3Bi-1Ag)疲劳寿命的实验和有限元分析
机译:热循环下的封装式封装(PoP)组装可靠性
机译:堆叠式BGA封装的组装和可靠性研究
机译:校正:微电子封装中金钯包铜和掺钯铜丝的比较可靠性研究和分析
机译:热循环载荷下热生长氧化物在热循环载荷下的应力场测定和鉴定热生长氧化物下的鉴定
机译:热循环/蠕变载荷下高级金属基复合材料的损伤累积。
机译:形成具有芯片封装的堆叠封装(PoP)结构的方法,该芯片封装具有附接至中介层的第一侧的多个裸片,中介层的第一侧形成在其上
机译:一种形成具有用于三维集成电路(3DIC)堆叠的载流子丢弃控制的堆叠封装(PoP)器件的方法
机译:堆叠封装(PoP)器件,包括集成电路(IC)封装之间的间隙控制器
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