La_(0.75)Na_(0.25)MnO_3外延膜的制备及电流诱导效应

摘要

通过射频磁控溅射,在单晶LaAl O3(100)衬底上生长了膜厚为120 nm的La0.75Na0.25MnO3外延膜.应用X射线衍射仪、直流四探针法对其结构及电流诱导效应进行了系统研究.X射线结果表明:薄膜具有赝立方钙钛矿结构,为(100)取向外延膜.电阻率与温度关系表明La0.75Na0.25MnO3薄膜在275 K附近发生金属与绝缘体转变.电流在0.5～4 mA范围内,薄膜的峰值电阻率随电流增大而减小,在4 mA下获得了15.9%的峰值电阻率变化,并应用相分离理论给出了合理的解释.