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PIN结构GaN基α粒子探测器的设计

             

摘要

根据Bragg公式及L.S.S理论,计算分析了241Am放射性源在GaN及合金材料中的射程及能量损失比,利用SRIM模拟仿真241 Am在GaN中的射程及能量损失比,得出了最佳PIN结构中Ⅰ层的厚度,优化设计了GaN基α粒子探测器的PIN结构,为MOCVD技术制备PIN结构GaN基α粒子探测器提供了理论依据和实验参考数据.

著录项

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  • 作者单位

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西南昌330013;

    东华理工大学江西省新能源工艺与装备工程技术研究中心,江西南昌330013;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TL817.2;
  • 关键词

    GaN ; PIN ; α粒子 ; 射程 ;

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