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孙霞; 丁泽军; 肖沛; 吴自勤;
中国科技大学结构分析重点实验室,物理系,安徽,合肥,230026;
电子束光刻; 邻近效应; Monte; Carlo模拟; 抗蚀剂; 分辨率;
机译:基于Monte Carlo模拟的低能电子束光刻模板掩模结构因子优化。
机译:使用Monte Carlo模拟使用Monte Carlo模拟的飞行时间总中子散射仪设计的优化设计,用于施用无序大分子
机译:基于 Ab i> Initio i>的Monte Carlo模拟研究4H-SiC(11-20)上生长的AlN的结构稳定性
机译:Monte Carlo模拟20nm栅极长度的植入量子孔Ge Pmosfet,具有不同的横向间隔宽度
机译:亚微米电子束光刻的计算机可视化和邻近效应校正
机译:使用Monte Carlo模拟预测抗体中和在超腐败表位中的抗体中和疗效
机译:基于AB Initio的Monte Carlo模拟Aln在4H-SiC中生长的结构稳定性(11-20)
机译:电子束光刻中的邻近效应
机译:使用基于时间和成本数据的MONTE CARLO模拟软件进行良好的计划。
机译:使用Monte Carlo模拟的EPMA分析方法
机译:半导体器件的Monte Carlo模拟模式为null
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