基于单片机的荧光寿命法温度测量仪的研究

摘要

为了解决温度测量中的非线性和响应速度问题.研究了基于单片机89V51RD2计数原理测量荧光寿命的测温装置.研究发现,由于荧光比激发光滞后一个荧光寿命时间,把产生荧光的激发信号和监测到的荧光信号进行异或运算,用单片机测量出异或电路置1的时间,这个时间就是荧光寿命, 再根据荧光寿命和温度的对应关系式可计算出被测量温度.分析表明,在0～100 ℃范围内,基于单片机的荧光寿命法温度测量仪的分辨率为0.01 ℃,测量精度为±0.05 ℃,响应时间为0.01 s,解决了温度测量中的非线性和响应速度的问题.