首页> 中国专利> 基于逐次比较法的荧光寿命测量方式

基于逐次比较法的荧光寿命测量方式

摘要

基于逐次比较法的荧光寿命测量方式,主要通过模拟域比较器对光探测单元输出的电压信号进行实时比较并取舍的方式,使最终的输出信号只包括最高电压、最低电压和时间信号,大大减少了传感器输出的有效数据量,减轻了带宽压力。

著录项

  • 公开/公告号CN111175258A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学青岛海洋技术研究院;

    申请/专利号CN201811348751.7

  • 申请日2018-11-13

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 266200 山东省青岛市鳌山卫街道青岛蓝色硅谷核心区莱青路2-2号

  • 入库时间 2023-12-17 09:29:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20181113

    实质审查的生效

  • 2020-05-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号