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赵毅强翟文生王健刘铁臣;
航天机电集团第三研究院第八三五八研究所!天津300192;
少数载流子寿命; 光电导衰退法; 测试系统;
机译:直接观察由电位诱导的降解和恢复测试引起的SiNx钝化的n型晶体硅衬底的有效少数载流子寿命的变化
机译:硅表面的醌氢醌化学钝化,用于少数载流子的大寿命测试
机译:垂直双极晶体管测试结构,用于测量IGBT中的少数载流子寿命
机译:使用实时基线校正方法研究InAs / InAsSb II型超晶格中少数载流子的寿命和运输。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:关于少数载流子扩散长度/寿命测量的第一次工作组会议:循环寿命/扩散长度测试的结果
机译:多余的少数载流子的有效寿命的测定方法和多余的少数载流子的有效寿命的测定装置
机译:半导体器件中少数载流子扩散长度和少数载流子寿命的无损测量方法
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