基于高频光电导法半导体少数载流子寿命测量系统的设计与实现

摘要

基于高频光电导衰减法半导体少数载流子寿命测量基本原理,设计了半导体少子寿命测量系统,并在二极管检波电路的基础上,对信号处理系统进行了改进。该信号处理系统采用反馈式检波电路,相比于传统二极管检波电路,运用运算放大器的反馈原理减小了检波二极管压降产生的误差,同时结合二极管嵌位作用,减小了运算放大器压摆率带来的影响,提高了测量系统的检波能力。通过实验,验证了该检波电路的可行性,测试结果表明,有效提升了测量系统的准确性。