X射线反散射法测量塑料薄膜厚度

摘要

为实现快速、无损、精确的塑料薄膜厚度分析,讨论了XRF方法在塑料薄膜厚度测量中的应用,采用源初级射线散射法对塑料薄膜厚度进行相对测量.结果表明,厚度在10～800μm时,反散射X射线荧光强度与塑料薄膜厚度线性关系良好.对仪器标定后进行200s快速测量,测量的厚度绝对误差＜3μm(10～135μm),相对误差＜4％(36～576μm),有较高的测量精度.XRF方法可用于塑料薄膜厚度的测量,该法对塑料工业的生产有现场指导的意义.