X射线荧光

摘要： 通过X射线荧光、红外光谱和X射线衍射等检测方法分析了延庆硅化木的矿物学特征.结果表明:2个不同植物种属但在同一埋藏地形成硅化木标本成因相似,其颜色与所含元素种类及含量密切相关.X射线衍射分析表明,不同颜色和植物种属的硅化木主要组成物相一致,为SiO_(2),其他矿物极其微量.2个硅化木标本的红外吸收谱带基本一致,均显示典型的石英质玉石红外吸收光谱,且含有少量吸附水.偏光显微镜下显示2个硅化木标本的主要矿物成分均为隐晶质石英.延庆土城子组硅化木的沉积环境为较浅的湖沼沉积,当时处于半干旱-半湿润的气候条件下,并伴随火山活动.

摘要： 卤族元素氟、氯、溴、碘广泛分布在地圈、水圈和生物圈,它们是矿产资源,也是许多地学研究的信息载体,更与人类生活紧密相关。卤族元素分析是地质分析的重要组成部分,而X射线荧光光谱分析方法在当今的卤族元素分析中占有重要地位。本文收集我国1988年—2020年间X射线荧光光谱分析地质材料氟、氯、溴、碘的文献126篇,在简述卤族元素的天然存在、分析技术、X射线谱学特点及现代X射线荧光光谱仪器条件的基础上,分类评介了X射线荧光光谱在氟、氯、溴、碘分析中的应用。样品类型包括:作为主组分的卤化物矿石矿物,作为次量和痕量组分的岩石、矿石、海洋样品、煤及石油、天然卤水、生物样品和以土壤、沉积物为主的地球化学调查样品。对作为主元素存在的矿石矿物中的F和Cl,测定精度(RSD)可达到<0.5%的水平;对于以痕量元素存在的F,Cl,Br和I,多数文献的检出限水平(粉末压片制样)分别为:<50,<20,<1.0和<10μg·g^(-1)。至今已经有两篇文献报道了经一次压片制样依次测定了样品中的F,Cl,Br和I四元素,这无论是对地质分析,还是X射线荧光光谱分析都是一明显进展。文章最后指出,X射线荧光光谱已经成为地质材料卤族元素分析的重要方法,而由于其制样简单、快速、经济、无污染和多元素同时测定的独特优势在未来的卤族元素分析中将发挥更大作用;同时也提醒关注Cl在测定中的不稳定问题和卤族元素分析在XRF分析中的典型意义。引文134篇。

摘要： 材料内部微观尺度上成分、组织结构控制精度低、波动大是制约高铁铝合金国产化进程的重要原因,因此从微观尺度上研究大尺寸铝合金成分均匀性至关重要。鉴于目前研究铝合金偏析的区域通常较小且不连续,定量统计方法过于简单。使用微区分辨率较高的微束X荧光与原位定量统计分布分析技术相结合的方法,从点、线、面、频度分布等方面对成分分布数据进行解析,研究了较大尺寸范围内铝合金成分偏析的规律。研究结果表明铸轧7B05铝合金截面中心层存在接近2 mm的偏析带,Al,Cr,Ti和Zr元素为正偏析元素,中心层含量比上下表面高,Cu,Fe和Zn元素为负偏析元素,中心层含量比上下层含量低;各元素含量分布的统计偏析程度整体较小,分布最均匀的为Al元素,统计偏析度最小为0.01%,Ti和Fe元素分布较不均匀,统计偏析度分别为0.81%和0.6%;Fe元素与Mn元素在面分布中出现较明显的点状偏析,这是由于铝合金铸造过程中经显微偏析形成的金属间化合物,在后续的热轧成型中破裂成多个连续排列的第二相所致。使用激光诱导击穿光谱法对该方法所得数据进行验证,结果显示在30 mm×6 mm尺寸范围内所测元素面分布与线分布结果与荧光结果趋势完全一致。综上所述,使用微束X荧光结合原位统计的方法,对铸轧7B 05铝合金点、线、面、频度分布及偏析程度的计算,可提供大量分析数据,对于量化研究大尺寸范围内轧板截面组织、性能的波动趋势具有重要意义。

摘要： 堇青石-莫来石立柱是一种常用的陶瓷厂窑具材料,在高温烟气腐蚀下,堇青石-莫来石立柱通常发生断裂失效。本工作以陶瓷厂断裂失效堇青石-莫来石立柱为研究对象,采用X射线衍射、X射线荧光、扫描电子显微镜等技术测定分析了堇青石-莫来石立柱的化学组成与微观结构。结果发现:断裂失效后的堇青石-莫来石立柱组织中形成了大量玻璃相结构,伴有大量二氧化硅流失,出现了大量裂纹、孔隙,导致堇青石-莫来石立柱抗折强度下降,引发堇青石-莫来石立柱断裂失效。

摘要： 建立一种快速检验塑料瓶盖类物证的方法。利用手持式差分拉曼光谱和X射线荧光光谱对39个塑料瓶盖进行检验,将有机成分检验和无机元素检验结合起来,根据其拉曼特征峰进行分类,根据不同元素的含量对每类分组。结果表明:此方法简单快速,无损高效且便于操作,建立了一种快速检验塑料瓶盖类物证的办法,将此方法应用于公安实践中能有效提高破案效率,在法庭科学领域有广阔的发展前景。

摘要： 对X射线荧光光谱法分析转底炉金属化球团中锌含量过程中样品预处理和检测条件进行试验和讨论。通过严格控制样品预处理环节的温度和时间,设置合理的检测分析参数,从而确保金属化球团中锌含量检测结果的稳定性。精密度和准确度试验表明,X射线荧光光谱法是一种可靠高效的分析方法,能满足生产要求。

摘要： 近年来,随着X射线光源、单色、聚焦及探测系统的发展,在实验室可借助低功率X射线光源开展X射线荧光(XRF)和X射线吸收谱(XAS)分析.液体金属射流源等新型X射线光源系统、闭合反馈系统、电荷耦合元件和方孔微通道板等技术和计算方法的进步促进了聚焦扫描型、全场型和XRF计算机断层扫描等实验室型XRF元素空间成像技术的发展.超环面、球面和柱状弯晶等单色聚焦系统的发展推动了实验室型XAS技术的发展.探索新型的实验室X射线光源系统,开发更高效的单色聚焦系统,推动X射线动态电影拍摄技术等将是未来研究的重要发展方向.

摘要： 主要讨论X-射线荧光仪检测铅精矿中多种元素含量的方法.X-射线荧光仪常用的分析样品类型有融片样和粉末压片样,粉末压片制样简单、成本低、速度快,是X-射线荧光仪常用的制样方式.X-射线荧光仪分析粉末压片样中多种元素的含量,在实际应用中比化学分析有明显的优势,耗时少,效率高.波长色散X-射线荧光仪的优点就是能依据批量样品的化学定值,建立相应的多元素分析工作曲线,做到一次制样,一次检测多种元素的含量,省时省力,在现场和实验室得到广泛应用.

摘要： 提出了利用常规X射线荧光光谱仪测定水泥熟料中重金属含量的方法.MLD技术的应用,使得样品无须准确固定稀释比、严格控制熔样温度;同时自定值技术的运用摆脱了对化学分析法定值的依赖,解决了As、Pb元素测量中谱线重叠问题以及光路谱线空白干扰问题,建立了标准GB/T 30760中规定的Mn、Cr、Ni、Cu、Zn、As、Pb等微量重金属的测定曲线.对实际样品的测定结果进行了分析,表明7种重金属测定偏差均小于10 ppm,小于规定的重金属含量限值,同时该测定方法表现出良好的稳定性与准确性,因此可用于协同处置固体废物的水泥熟料中重金属含量的测定.

摘要： 为研究风积沙在交通运输、土木工程等基础设施建设中应用的可行性,对新疆塔克拉玛干、古尔班通古特和内蒙古腾格里沙漠地区风积沙的元素组成、微观形貌、表面特性、粒度分布、孔隙性及抗剪性能进行了深入研究。结果表明:不同地区风积沙的材料特性存在一定的差异;通过抗剪实验发现,风积沙内摩擦角随含水率的变化并不明显,内摩擦角约为32°~42°时,随干密度的增大而增大,但均小于标准砂的内摩擦角,主要原因是集料的粒径配合比对内摩擦角的影响较大。最终得出风积沙可作为良好的建筑材料来应用。

摘要： 20世纪80年代，同步辐射X射线荧光技术(SR-XRF)开始发展起来，其具有许多优异的性能，解决了传统X射线荧光灵敏度低、角发散度大等问题，适用于无损微区分析，可进行多元素同时测定、空间分辨率好，近年来发展迅速，已在地质、环境、生物、考古等领域得到了广泛应用，特别是生物地球化学领域进行了大量研究工作。同步辐射x射线荧光是研究植物中元素分布特征的重要手段。同时，同步辐射x射线荧光适用于微区分析的特点也使其可用于大气微细颗粒中元素组分的研究，也应用于极地环境方面的研究。虽然同步辐射x射线荧光己经广泛地应用到了各研究领域，但其样品测定需在同步辐射工作站展开，难以用于大量、大体积样品如考古样品的分析测定和现场分析。

摘要： 珠宝的价值主要体现在它本身卓越的品质上,而鉴定技术就是保证珠宝品质的堡垒,随着科技的进步,珠宝鉴定技术也受到影响,主要体现在技术的提升、鉴定设备的优化和工作效率的提高方面.

摘要： 珠宝的价值主要体现在它本身卓越的品质上,而鉴定技术就是保证珠宝品质的堡垒,随着科技的进步,珠宝鉴定技术也受到影响,主要体现在技术的提升、鉴定设备的优化和工作效率的提高方面.

摘要： 珠宝的价值主要体现在它本身卓越的品质上,而鉴定技术就是保证珠宝品质的堡垒,随着科技的进步,珠宝鉴定技术也受到影响,主要体现在技术的提升、鉴定设备的优化和工作效率的提高方面.

摘要： 珠宝的价值主要体现在它本身卓越的品质上,而鉴定技术就是保证珠宝品质的堡垒,随着科技的进步,珠宝鉴定技术也受到影响,主要体现在技术的提升、鉴定设备的优化和工作效率的提高方面.

摘要： 珠宝的价值主要体现在它本身卓越的品质上,而鉴定技术就是保证珠宝品质的堡垒,随着科技的进步,珠宝鉴定技术也受到影响,主要体现在技术的提升、鉴定设备的优化和工作效率的提高方面.

摘要： 本文主要介绍了一种基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属在线分析仪器(AMMS-100)的比对试验及其在环境监测领域中的应用研究,该仪器以EPA Method IO-3.3方法为基础,利用滤膜对大气颗粒物进行采样,然后利用XRF技术对滤膜中的重金属进行分析.AMMS-100具有可同时监测28种元素、无损快速、检出限低、维护成本低和使用方便等优点.本文主要介绍了该仪器在不同应用模式下的现场监测数据以及比对试验方法和结果.大气站长期运行结果显示,基于该技术的仪器性能稳定、可靠、可长时间连续在线监测环境空气中的重金属污染物.AMMS-100还可以应用于移动监测车上,移动监测交通干道、工业园区等特殊区域环境空气重金属污染情况.另外,将基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属连续分析技术与常规方法进行比对,以Pb、Fe为例,相对误差在10％以内,证明该技术能够准确监测环境空气中的重金属污染物.

摘要： 本文主要介绍了一种基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属在线分析仪器(AMMS-100)的比对试验及其在环境监测领域中的应用研究,该仪器以EPA Method IO-3.3方法为基础,利用滤膜对大气颗粒物进行采样,然后利用XRF技术对滤膜中的重金属进行分析.AMMS-100具有可同时监测28种元素、无损快速、检出限低、维护成本低和使用方便等优点.本文主要介绍了该仪器在不同应用模式下的现场监测数据以及比对试验方法和结果.大气站长期运行结果显示,基于该技术的仪器性能稳定、可靠、可长时间连续在线监测环境空气中的重金属污染物.AMMS-100还可以应用于移动监测车上,移动监测交通干道、工业园区等特殊区域环境空气重金属污染情况.另外,将基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属连续分析技术与常规方法进行比对,以Pb、Fe为例,相对误差在10％以内,证明该技术能够准确监测环境空气中的重金属污染物.

摘要： 本文主要介绍了一种基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属在线分析仪器(AMMS-100)的比对试验及其在环境监测领域中的应用研究,该仪器以EPA Method IO-3.3方法为基础,利用滤膜对大气颗粒物进行采样,然后利用XRF技术对滤膜中的重金属进行分析.AMMS-100具有可同时监测28种元素、无损快速、检出限低、维护成本低和使用方便等优点.本文主要介绍了该仪器在不同应用模式下的现场监测数据以及比对试验方法和结果.大气站长期运行结果显示,基于该技术的仪器性能稳定、可靠、可长时间连续在线监测环境空气中的重金属污染物.AMMS-100还可以应用于移动监测车上,移动监测交通干道、工业园区等特殊区域环境空气重金属污染情况.另外,将基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属连续分析技术与常规方法进行比对,以Pb、Fe为例,相对误差在10％以内,证明该技术能够准确监测环境空气中的重金属污染物.

摘要： 本文主要介绍了一种基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属在线分析仪器(AMMS-100)的比对试验及其在环境监测领域中的应用研究,该仪器以EPA Method IO-3.3方法为基础,利用滤膜对大气颗粒物进行采样,然后利用XRF技术对滤膜中的重金属进行分析.AMMS-100具有可同时监测28种元素、无损快速、检出限低、维护成本低和使用方便等优点.本文主要介绍了该仪器在不同应用模式下的现场监测数据以及比对试验方法和结果.大气站长期运行结果显示,基于该技术的仪器性能稳定、可靠、可长时间连续在线监测环境空气中的重金属污染物.AMMS-100还可以应用于移动监测车上,移动监测交通干道、工业园区等特殊区域环境空气重金属污染情况.另外,将基于X射线荧光(XRF)原理的大气重金属连续分析技术与常规方法进行比对,以Pb、Fe为例,相对误差在10％以内,证明该技术能够准确监测环境空气中的重金属污染物.

摘要： 本发明的目的在于提供一种能够高精度地测定含有多种添加剂和金属的被测定液中包含的各种金属浓度的测定方法以及测定装置。一种荧光X射线分析的测定方法，基于荧光X射线强度测定值来测定含有1种以上的添加剂和金属的被测定液中包含的测定对象金属的各种金属浓度，该测定方法包括以下工序：校准曲线多项式决定工序(S11)，决定测定对象金属的校准曲线的多项式近似式；液体种类校正多项式决定工序(S12)，决定用于针对测定对象金属的荧光X射线强度测定值校正因含有添加剂而引起的测定值的误差的多项式近似式；比重校正多项式决定工序(S13)，决定用于针对测定对象金属的荧光X射线强度测定值校正由被测定液的比重的差异引起的测定值的误差的多项式近似式；以及金属浓度测定工序(S14)，使用通过校准曲线多项式决定工序、液体种类校正多项式决定工序以及比重校正多项式决定工序决定的多项式近似式，来测定测定对象金属的各种金属浓度。

摘要： 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器，其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板，其中，所述第一基板具有：支持基板，其具有配置液体状试样的孔；第一树脂薄膜，其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔；以及粘结层，其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面，所述第二基板具有：固定基板，其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔；以及第二树脂薄膜，其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上，并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

摘要： 为了不拘被检查部位的主体厚度或运动的度量而生成符合高质量的X射线照相的图象,射线照相照射时间阈值读出部分4读取由操作者从射线照相的照射时间阈值表3中输入的对应于被检查部位的射线照相照射时间阈值Th,并且照射条件确定部分5和射线照相照射时间比较部分6,在Th<射线照相的照射时间Ts时选择较大的射线照相的焦点尺寸作为用于X射线管1的射线照相的焦点尺寸,而在Th≥射线照相的照射时间Ts时选择较小的射线照相的焦点尺寸。

摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置及荧光X射线分析装置的控制方法，即使在荧光X射线分析装置发生异常的情况下，也能够防止样品的劣化、破损、装置内部污染。荧光X射线分析装置具备：测量部，包括在待机位置和测量位置之间移动样品的移动机构、向样品照射1次X射线的X射线源、检测入射的荧光X射线的强度的检测器和控制移动机构及X射线源动作的第一控制部；以及信息处理部，其具有基于检测器测量出的荧光X射线的强度对样品进行分析的分析部、和与第一控制部进行通信并控制测量部的第二控制部，第一控制部具有退让单元，在第一控制部与第二控制部之间的通信被切断时，对移动机构进行退让控制，以使得在测量位置的样品退让至待机位置。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位，并且被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定第一波长范围。第一晶体衍射仪被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器(602、1505)。第一晶体衍射仪(601)包括具有衍射表面(801、803、805)的热解石墨晶体(603、802、804)，所述衍射表面是单连通表面。所述第一辐射检测器(602)是固态半导体检测器。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料的样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601、1501)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。其包括第一晶体(603、1502)和第一辐射检测器(602、1505)，该第一辐射检测器被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体(603、1502)衍射的荧光X射线。第二晶体衍射仪(1511)相对于所述浆料处理单元(201)沿第二方向定位。其包括第二晶体(1512)和第二辐射检测器(1515)，该第二辐射检测器被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体(1512)衍射的荧光X射线。所述第一晶体(603、1502)是热解石墨晶体，所述第二晶体(1512)包括热解石墨以外的材料，并且所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位，并且被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定第一波长范围。它被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器(602、505)。所述X射线管(402)的输入功率额定值为至少400瓦。第一晶体衍射仪(601)包括热解石墨晶体(603)。所述X射线管(402)与所述浆料处理单元(201)之间的光路是直接的，其间没有衍射仪。

摘要： 一种X射线荧光分析仪系统，其包括X射线管(402)、浆料处理单元(201)和晶体衍射仪(601)，该晶体衍射仪相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。晶体衍射仪(601)从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定波长范围，并将处于所分离的预定波长范围内的荧光X射线导向至辐射检测器(602、1605)。晶体衍射仪(601)包括热解石墨晶体(603)。所述预定波长范围包括预定的感兴趣元素的特征荧光辐射，预定的感兴趣元素的原子序数Z在41到60之间，包括端值。在所述特征荧光辐射的能量下，所述辐射检测器(602、1605)的能量分辨率优于600eV。