镀层厚度的X射线衍射法测量

摘要

用基体X射线衍射法测量了化学镀Ni-P合金的镀层厚度,并进行了误差分析。结果表明,基体X射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法,在其适用的范围之内,能客观准确地测量出镀层厚度,误差小于金相法测量误差;基体X射线衍射法的测量结果,几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响,可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度。