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翟玉卫; 丁晨; 梁法国;
中国电子科技集团公司第十三研究所;
热阻; 半导体器件; 温度敏感参数; 降温曲线; 结构函数;
机译:基于热阻抗的频率相关性的半导体器件线性热电路参数确定中的误差估计
机译:用于测量半导体器件的热阻分量的调制方法
机译:具有p-n结的半导体器件的热阻测量方法
机译:使用周期性加热热解反射法测定半导体器件内半导体器件的微观电阻评价技术的发展:不同界面热阻的Au-Si 2层样品测量
机译:基于物理的热阻抗模型,用于仿真半导体器件和电路中的自热。
机译:基于完美匹配层和光谱元素方法的3D量子传输解算器用于半导体纳米器件的仿真
机译:功率半导体器件和散热器的情况下的热阻降低
机译:Gaas上金属绝缘体半导体结构的电学分析方法
机译:基于电子医疗记录的回顾性队列研究来确定药物不良反应的方法,基于电子数据记录的回顾性队列研究来检测药物不良反应或干预的方法以及基于药物的回顾性队列研究检测药物或药物的不良反应的方法
机译:半导体器件及方法半导体器件状态回顾及其制造
机译:制造P型基于ZnO的半导体层的方法,制造基于ZnO的半导体器件晶片的方法,制造基于ZnO的半导体器件的方法以及基于ZnO的半导体器件晶片的方法
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