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赵霞; 吴金; 姚建楠;
东南大学无锡分校,江苏,南京,210096;
半导体器件; 可靠性; 加速寿命试验; 失效机理;
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机译:对聚丙烯薄膜的老化机理和统计寿命模型的研究。
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机译:硅纳米晶体金属氧化物半导体存储器件中的导电机理和电荷存储的原子力显微镜研究
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