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Study of infrared evaluation in qualification and failure analysis of semiconductor devices Final report, 28 Jun. 1967 - 10 Jun. 1969

机译：半导体器件鉴定和失效分析中的红外评估研究最终报告，1967年6月28日 - 1969年6月10日

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Techniques for providing infrared data for use in failure analysis of semiconductor devices

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作者
Berger, W. M.; Soltau, R. H.;
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作者单位

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年度 1969
页码 1-187
总页数 187
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
FAILURE; INFRARED INSPECTION; SEMICONDUCTOR DEVICES; HIGH TEMPERATURE; MICROELECTRONICS; TEMPERATURE EFFECTS;

机译：失败;红外线检查;半导体器件;高温;微电子;温度效应;

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