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基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统

摘要

本发明提供一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统,对元器件进行FMEA结构划分,将元器件分解为功能单元,功能单元具有独立的失效机理,分析功能单元的失效机理和分析导致失效机理的失效模式,分析失效机理和失效模式对元器件的影响,根据功能单元的失效机理,构建失效物理模型,根据失效物理模型,分析引起失效机理的失效原因,整合元器件失效影响分析结果和引起失效机理的失效原因,获得FMEA分析结果,以提高元器件可靠性。整个元器件FMEA分析的起点是失效机理,在识别失效机理的基础上,对其失效物理模型进行分析,分析失效机理的加速因子,从深层次上对元器件进行准确的可靠性分析,准确反映元器件可靠性状况。

著录项

  • 公开/公告号CN104166800A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 工业和信息化部电子第五研究所;

    申请/专利号CN201410401825.4

  • 发明设计人 来萍;陈媛;黄云;何小琦;

    申请日2014-08-11

  • 分类号G06F19/00;G06F17/50;

  • 代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人周清华

  • 地址 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

  • 入库时间 2023-12-17 01:44:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F19/00 申请公布日:20141126 申请日:20140811

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-12-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20140811

    实质审查的生效

  • 2014-11-26

    公开

    公开

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