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第九届全国可靠性物理学术讨论会

召开年：2001
召开地：延安
出版时间： 2001-09

主办单位：中国电子学会

会议文集：第九届全国可靠性物理学术讨论会论文集

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1.斑马纸连接电阻增大失效机理及改进效果
- 李少平;张晓明;罗道军
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：斑马纸连接电阻增大失效的机理分析,产品改进试验效果.
2.金属化安全膜防爆电容器电容量的稳定性
- 高儒昌
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：笔者通过对金属化安全膜极板单元图形设计、自愈机理、原材料质量以及生产工艺对电容器电容量稳定性影响的分析,以及试验数据证明了金属化安全膜防爆电容器的电容量和普通金属化膜电容器的电容量同样稳定且更加可靠.
3.密封继电器触点接触电阻失效问题探讨
- 黄勉
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文论述用于航天飞行器配套用继电器触点接触电阻的故障分析方面的研究.触点接触电阻主要是阻值偏离设计参数的现象.从失效机理入手探讨解决措施.
4.电子元器件耐电压老化与局部放电试验
- 肖虹;常炜
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.
5.元器件优选综合信息系统
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本系统为电子元器件选用提供信息支持,是提高产品可靠性、降低全寿命周期费用的有效途径.
6.电子元器件的主要失效机理和失效分析技术
- 费庆宇
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文综述了电子元器件的主要失效机理和失效分析技术.当元器件厂或整机厂需要委托专门机构或自行开展元器件失效分析工作时,本文具有一定的参考价值.
7.破坏性物理分析促进军用电子元器件质量提高
- 徐爱斌;刘发
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：介绍了电子五所应用破坏性物理分析(DPA)技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子.
8.ULSI中铜互连线通孔电迁徙失效的数值模拟
- 李志国;卢振钧;吉元;孙英华;程尧海;张万荣;李鸣;吕晓亮
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：利用三维有限元模型对Cu互连线通孔进行了电流密度、温度和温度梯度分布进行了模拟,比较了具有不同阻挡层材料通孔的电流密度、温度和温度梯度分布.对于同一阻挡层材料,进行了不同通孔倾斜角的模拟.模拟结果指出通过优化通孔倾斜角和优选阻挡层材料可提高其可靠性,对通孔的设计提供了有益的参考.
9.细检漏中的灵活法
- 吴琬光
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文对细检漏中的灵活法进行分析,讨论检漏的原理.对标准中的公式进行分步理解,并得出一些试验方案供参考.
10.电子元器件长期贮存可靠性分析
- 杨家铿
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文着重对8528只电子元器件在北京室内贮存十余年后的可靠性进行分析,分析了国产元器件的贮存失效率随时间的变化规律、失效模式和影响贮存可靠性的主要因素.进而结合广州、广元和桂林等地的长期贮存试验结果,估算了国产半导体器件的贮存寿命.此外,本文还根据我所及作者的实践经验,提供了长期贮存元器件的选用方法等.
11.关于对电子元器件在长期储存试验中出现的若干失效实例的总结
- 吴洵颖
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文主要对在储存试验中电子元器件出现的若干失效实例的失效模式、失效机理进行归纳,总结出一些共性问题及相应的对策.
12.军用分立半导体器件的现场可靠性研究
- 朱启新
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文依据现场数据进行了的分立半导体的可靠性研究,给出了失效模式分布和失效率,就现场出现多次失效的元器件分析了原因,并提出了相应的改进建议.
13.IT产品ESD测试及对策
- 朱文立
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：随着IT产品自动化、智能化程度越来越高,静电放电对其危害也越来越严重,本文根据笔者实际工作经验就静电放电对IT产品的危害及静电放电敏感度测试、电路设计对策等提出一些观点和看法,供大家在实际使用中参考.
14.CMOS电路抗ESD可靠性设计
- 罗宏伟;俞德顺
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文针对国产CMOS电路存在的抗ESD水平不高的现状,通过对CMOS电路ESD失效样品的失效分析,找到了电路失效的关键部位,并对失效原因作了具体分析,提出了在输入/输出端口进行可靠性设计改进的技术,使CMOS电路的抗ESD能力达到2000V以上.
15.PCB板表面镀金层质量的快速分析与评价
- 冯敬东;李少平
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：采用俄歇电子能谱分析了PCB板表面镀层金属元素的深度分析,扫描电子显微镜分析了PCB板镀层金属的表面形貌,稀盐酸腐蚀对比试验分析,对PCB板表面镀金层质量进行了快速分析与评价.
- PCB板;
- 镀金层;
- 致密;
- 腐蚀;
- 微颗粒;
- 表面形貌;
16.金属防护样品天然暴露试验及失效分析
- 廖国栋;吴国华;苏少燕
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文针对金属防护样品在南海和东海海洋环境下的暴露试验结果,分析了环境因子对金属腐蚀的影响,以及金属材料在不同环境条件下的耐腐蚀性能.
17.电子产品系统可靠性设计
- 吴弋旻
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：可靠性设计技术,是系统产品可靠性工程设计的准则和依据,是通过长期各方面可靠性设计的经验积累,是一种规范化的设计方法.推广和规范可靠性设计技术,并且在系统产品设计进行应用,可以缩短系统产品的产业化进程,能有利于提高系统产品的寿命.
18.系统可靠性预计方法综述
- 魏选平;卞树檀
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文全面介绍了当前系统可靠性预计的最新方法.对几种比较典型的方法作了简要的分析和比较,从而指出了各方法的优长与缺陷.为可靠性预计工作提出了独到的见解.
- 系统可靠性;
- 可靠性预计;
19.光通信网络的特性及可靠性综述
- 郑德庆;胡慧娟
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文对光通讯网络的基本特点及可靠性要素进行初探,总结了最新的技术资料.对光网络的可靠性从传输系统可靠性和局域网可靠性分别论述,其中也包含微软公司、IBM公司以及中软总公司的观点.与有关业内人员商榷.
20.用Access进行质量和可靠性信息管理
- 丁瑞芳
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文阐述了质量和可靠性信息管理的重要性,详细介绍了如何用Access创建质量和可靠性信息管理数据库,并利用该数据库收集、统计、分析产品的质量和可靠性信息,从而为提高产品质量和可靠性进行科学的决策.
21.可靠性分析在经济合同质量纠纷中的作用
- 蔡懿;冯敬东
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：文章主要通过产品质量引发经济合同纠纷的主要表现形式,剖析了产生经济合同质量纠纷的根源,从产品可靠性与质量管理的角度提出了严格产品标准化工作的管理,为维护商品流通的正常秩序,维护国家和社会公众的利益,开展可靠性分析,正确评价产品质量.
22.飞机信息管理技术标准化工作初探
- 刘宝华
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：随着信息管理技术的不断提高,计算机及其网络建设的应用也越来越广泛.为了尽快实现飞机信息管理先代化,不断提高信息的传递速度、简化处理过程、提高工作效率、保证信息质量.应积极开展飞机信息管理技术的标准化工作.
23.GH-20双向门高温试验箱的研制
- 易福如
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文描述GH-20双向开门高温老化试验箱的主要技术性能及特殊用途.描述设备的构成,工作原理、系统配置及研制过程.
24.硅压力传感器可靠性综合寿命试验和评价
- 王蕴辉;王善慈
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍了硅压力传感器可靠性综合寿命试验的思路、试验条件和试验结果.
25.电子元器件可靠性工艺控制技术探讨
- 彭苏娥;陈光炳
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文根据我国电子元器件目前的生产情况,分析了制造过程产生工艺波动、影响产品质量与可靠性的原因,以及工艺因素与产品主要失效模式的相关性,并针对这些影响因素,探讨了在生产工艺上进行可靠性控制的技术和方法.为了更好地对元器件生产工艺实施全面、有效的控制,本文提供了进行产品可靠性工艺控制的基本程序供参考.
26.环氧树脂在电子工业中的应用和改性
- 刘眉存
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍了环氧树脂在电子工业中的应用于封装和灌封的优特点,综述了环氧树脂进行改性从而实现环氧封装料低应力化的几种方法;并对改性后封装料的热性能和机械性能作了介绍.
27.橡胶、塑料的老化机理及预防措施
- 刘春和;李久祥;袁玉华
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文对军用装备广泛使用的橡胶、塑料等高分子材料,论述了贮存老化失效机理,并分别对橡胶、塑料提出预防老化的基本措施.
28.锂亚硫酸氯电池贮存寿命无损评价技术研究
- 罗道军;肖庆中;佘曼双
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文采用电化学交流阻抗技术研究了锂亚硫酰氯原电池在贮存过程中的阻抗谱变化特征,获得了指示使用寿命与贮存寿命的敏感参数R<,1>,并最终获得了无损评价该类电池的贮存寿命的技术方法,本文详细给出了数据的采集与分析方法及其过程.
29.可靠性研究、实验检测、质量分析和认证的基地——中国赛宝试验室
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
30.DPA是提高电子元器件使用可靠性的重要手段
- 张素娟;田立平;周永宁;郑鹏洲
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文利用DPA即破坏性物理分析对电子元器件进行分析结果剔除不合格批次,保留合格批次,以保证型号任务的完成.
31.机载设备电子元器件应用DPA方法浅析
- 孙锦阳;李四力
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：破坏性物理分析(DPA)方法在航空工程中得到了广泛地应用,取得了很好的效果.作者认为根据我国国情,航空(重要)工程中也应大力推广DPA方法的应用.本文简要介绍了DPA方法,分析了DPA方法在机载电子设备中应用的必要性和可行性,最后讨论了应用时应考虑的几个问题.
32.内部气氛分析在DPA工作中的重要作用
- 吴文章
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍内部水汽含量分析在DPA工作中的重要作用,以及目前国内水汽含量的现状和存在的普遍问题,与封装工艺的相关性,进行工艺改进的措施.
33.电子封装失效分析新技术——双波透射SAM
- 何小琦;马鑫;古关华
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍了在反射式SAM技术基础上开发的一种失效分析新技术——双波透射SAM技术的原理和应用特点.该技术依据声波在界面的反射系数R与材料声阻Z的关系,采用双程透射方法,通过入射和反射声波强度的对比分析,对界面缺陷进行定位,它是解决传统反射式SAM技术不能准确探测复杂结构界面缺陷、替代(单波)透射技术的又一新方法.
34.电子材料分析中的能谱干扰峰
- 施明哲;董本霞
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文主要阐述了在电子元器件分析中用能谱仪做定性分析时常见的一些干扰峰和容易混淆及误差的一些谱峰.主要有和峰、逃逸峰以及一些在元器件材料分析中常遇到的元素特征峰之间的交错重叠的识别和判定方法,并把这些容易误判的谱线整理列成三种表格,以供参考,这些数据基本覆盖了在X射线能谱仪中可能出现的所有相关的谱峰.
35.使用多层金属化与P-GaN形成低电阻的欧姆接触
- 吕长志;李志国;吕晓亮;谢雪松;王东风;冯士维;吴武臣;程尧海;陈建新
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：报告了对P-GaN实现低电阻欧姆接触的新型金属化方案.这个方案包括淀积多层金属Ti/Pd/Ni/Au(20A/300A/400A/500A),用快速热退火(RTA)合金850℃30S.对于掺杂浓度Na=3×10<’17>cm<’-3>的P-GaN,使用传输线方法(TLM)获得的接触电阻Rc=1.5×10<’-6>Ω.cm<’2>.对其形成低电阻的可能机理进行了讨论.
36.电荷泵技术评价热载流子注入效应
- 章晓文;张晓明
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：采用电荷泵技术研究MOS器件与热载流子注入有关的退化开始于20世纪80年代,该技术是利用衬底电流表征沟道漏端由碰撞电离引起的载流子注入.本文利用HP4155A能提供方波脉冲的特点,建立了电荷泵测试技术,利用该项技术对华晶1.0μm工艺线的抗热载流子注入效应的能力进行了评价,取得了预期的结果,在最大衬底电流附近,出现了电荷电流的最大峰值,表明该种应力条件下,器件的退化最为严重.
37.双极IC参数漂移模式的工艺控制技术
- 焦慧芳;张晓明;师谦;刘玉奎;曾莉
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文针对某双极模拟IC生产线,进行了失效模式、失效机理与关键工艺及管芯成品率的相关关系研究.对于双极模拟IC,参数漂移是其最主是要失效模式,引起参数漂移的主要原因是器件的表界面问题.通过对工艺监测技术的研究,找出了双极模拟器件表面质量的表征参数,建立了表面质量工艺监测的新方法.并找到了相应的器件表面质量控制措施,实现了生产线管芯成品率的大幅度提高.
38.两种军用集成电路的寿命可靠性评估
- 陈晖;凌琳
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文针对军用集成电路特殊的可靠性要求,从加速寿命试验的原理和Arrhenius方程出发,详细介绍了某引信专用电路B-1和某机载专用传感器放大电路HG-6两种军用集成电路的贮存寿命和工作寿命等可靠性寿命评估的方法和结果,两种电路在25℃环境中贮存15年的可靠度均达到99﹪以上,完全能够满足军用集成电路的寿命可靠性要求.
39.混合集成电路的失效分析
- 樊晓团
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文通过对两种混合集成电路:温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析,表明以下观点:(1)对混合集成电路的分析,应通过电路内部测试,测量电路工作状态下各关键部位的参数乃至动态波形;(2)深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度,有利于使分析结论更趋准确.
- 混合集成电路;
- 失效分析;
40.双极型晶体管B-E结反向击穿引起的hFE下降
- 谭宗新;徐立生;高兆丰
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文报导了对两种双极型晶体管进行的B-E结反向穿试验以及h<,FE>随击穿应力的变化关系.
41.硅微波功率晶体管动态加速寿命试验研究
- 范国华;金毓铨;荣炳麟;来萍;冯进东;扬宝生;王瑞曾;田明均;徐进
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本试验是对微波器件工作状态可靠性评价技术的探索,采用了与器件微波工作状态一致的试验技术,简化了试验设备,提高了设备可靠性.
42.微波功率器件在动态寿命试验中的失效机理
- 来萍;范国华;张晓明;金毓铨;荣炳麟;冯敬东
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：介绍了某型号S波段微波功率器件在动态加速寿命试验中的主要失效模式,分析了失效机理.从失效样品的参数测试结果及解剖分析看,造成器件的主要失效机理是:金属化电极尤其是发射极在电流和温度的共同作用下发生的电迁移失效.这是影响微波功率器件长期工作寿命的主要失效机理之一.
43.关于军用半导体器件芯片剪切强度失效判据的讨论
- 张延伟
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：芯片剪切强度试验是军用半导体器件可靠性试验的一个重要项目,本文通过对半导体粘接系统和在剪切作用力下出现的芯片分离模式的分析,在剪切强度的失效判据中提出了有效粘接和有效粘接面积的概念,并据此对国军标中该项试验的判据进行了讨论,重新对失效判据进行了定义,使剪切强度失效判据更准确、更科学和更具备的可操作性.
44.高频大功率晶体管的失效分析
- 欧叶芳
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：介绍了对某型号高频大功率晶体管进行的失效分析.分析结果表明器件在寿命试验中发生击穿失效的主要原因是芯片的散热结构存在工艺和设计方面的问题,这也是影响高频大功率工作寿命的主要问题.
45.微波PIN开关组件极间放电机理与分析
- 黄云等;郑廷圭;张晓明
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文通过对微波大功率单刀三掷开关的失效分析和验证试验,确定了微波电场、高驻波电压、助焊剂残留物和工艺缺陷导致极间间距减小等多种因数综合引起极间(PIN二极管下电极和PIN二极管上电极引线或固定引线的传输线之间)放电,并形成自持放电电场产生等离子体区,使内部元件被严重烧毁,导致开关组件失效.论述了微波电场下气体介质的击穿电压比直流电压低的原因和过程.
46.2H12B失效分析及对策
- 穆武林
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文着重对2H12B用于飞机高度表内出现失效现象进行分析,、在调查研究基础上提出采取措施.
- 微波混频二极管;
- 失效分析;
47.二极管裂纹失效分析
- 刘涌
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍日本空间发展机构在研制三种大功率和短波激光二极管在试生产期间出现裂纹失效,通过热应力分析,找出裂纹产生的机理.
48.KGD技术发展动态
- 恩云飞;罗宏伟;谭超元
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：裸芯片在国内有着广泛的用途和市场,尤其是在军用HIC和MCM应用领域,裸芯片质量和可靠保证一直是人们关注的热点.本文论述了已知良好芯片(KGD)保证的主要技术要求,国外KGD技术发展现状,以及国内发展KGD技术面临的机遇与挑战.
49.512×512元帧转移可见光CCD组件的可靠性预计
- 吕清哲
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：通过可靠性预计的方法,对CCD的连续工作寿命进行可靠性预计,得到CCD组件的MFBF.
50.金属膜电阻器的开路失效机理
- 王锡清
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文以RJ-0.25W-330KΩ金属膜电阻器为例,探讨了高阻金属膜电阻器的开路失效机理.研究结果表明,导电膜的电解腐蚀引起导电膜开路导致是金属膜电阻器的整机使用中开路失效的原因.
51.故障树分析法及其应用
- 魏选平;卞树檀
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍了故障树分析法的基本原理及其应用实例,并利用C语言来解决可靠性问题.从切身实验中,获得了值得借鉴的经验.
52.故障树法可靠性仿真模型及其应用
- 魏选平;卞树檀;朱晓菲
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文介绍了故障树可靠性仿真的模型,并阐述其基于Fortran PowerStation V4.0开发的应用实例,具有很强的实用性和操作性.对常见的可靠性问题,有普遍的指导意义.
- 故障树仿真法;
- 可靠性;
53.为提高米波雷达发射机可靠性进行结构设计的理论与实践
- 郑恩厚
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：电真空器件的米波雷达发射机(下称发设机)由于具有频率连续可调、低的成本,成熟的技术等优点,使得它在现代雷达中仍占有一席之地.本文叙述了在该类发射机结构设计时为提高其可靠性做的种种努力,改变了雷达众组合中发射机故障率较高的状况,通过实例谈谈这方面的体会.
54.某天气雷达的滑环故障分析及可靠性措施
- 何丽景
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文分析了某天气雷达天线伺服分系统的滑环故障产生的原因,并根据滑环的加工和安装调整过程所遇到的问题,提出了可靠性措施.
55.航天用独石电容器的常见失效模式及机理分析
- 孙静;胡会能;王全;胡斌
- 《第九届全国可靠性物理学术讨论会》 | 2001年
摘要：本文对航天用独石电容器在使用过程中出现的一些常见失效模式如电容器短路或呈阻性,电容器容值下降或开路等常见失效模式进行了介绍,并对其常见的失效原因及机理进行了分析.