T/R组件中芯片制造和使用的可靠性分析与控制

摘要

随着雷达技术的发展,采用多芯片组装T/R组件的有源相控阵雷达越来越引起人们的关注并获得广泛的应用。在多芯片组装的T/R组件中,芯片可靠性是组件可靠性的决定因素。文中在对T/R组件构成及可靠性影响因素分析的基础上,从芯片制造、转运和使用等方面对芯片可靠性的影响进行了分析,并给出了提高芯片使用可靠性的措施及建议。