声明
第一章 绪论
1.1 课题研究背景及意义
1.2 国内外研究现状
1.3 论文研究内容及结构
第二章 基于失效物理的MCM可靠性理论研究
2.1 失效物理分析及FMMEA方法
2.2 MCM的热应力失效
2.3 MCM芯片的失效分析与质量认证
2.4 MCM中的互连失效及检测技术
2.5 MCM中介质膜与粘合剂材料的可靠性
2.6 印制电路板电镀通孔的可靠性
2.7 本章小结
第三章 MCM失效物理建模技术框架
3.1 引言
3.2 基于失效物理的MCM可靠性技术框架
3.3 MCM典型失效模式失效物理分析
3.4 本章小结
第四章 考虑过应力失效和损耗失效的竞争失效分析
4.1 引言
4.2 考虑过应力失效和损耗失效的竞争失效分析
4.3 多失效模式间相关性分析
4.4 本章小结
第五章 MCM的可靠性试验方法研究
5.1 引言
5.2 MCM加速寿命试验
5.3 MCM加速寿命试验设计及其实施
5.5 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 本文总结
6.2 后续研究展望
致谢
参考文献
攻读硕士期间取得的成果