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半导体激光器近场分布测量系统

         

摘要

基于半导体激光器远场分布新模型和反源计算方法,建立了一套半导体激光器近场分布测量装置。系统的测量机制是利用测量的远场数据,反源计算近场分布。该装置由计算机控制,自动完成远场数据采样及拟合处理,经反源计算得到近场分布。

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