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成像标定法测量半导体激光器慢轴远场分布

         

摘要

利用远场成像及标定对比方法,建立了半导体激光器慢轴远场分布的CCD测量系统.介绍了测量的原理和测量系统的组成,并给出了半导体激光器慢轴远场分布的测量结果.实验结果表明,该方法实时性好,测量快速、准确,人为误差因素少,适合仪器化.

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