半導体レーザを用いたスペックルシアリング干渉法によるひずみ分布測定システム

摘要

本研究室では、これまでHe-Neレーザを用いたスペックルシアリング干渉法によるひずみ分布測定システムの開発を行ってきた。この測定システムは、レーザを試験物体に照射することによって生じるスペックルをCCDカメラで撮影し、数値計算を行うことで、試験物体のひずみ分布を測定している。一般に、試験物体のひずみ測定には、ひずみゲージが広く用いられているが、接触測定であり、貼り付けた一点のみの測定であるため、この方法では測定できない場合が存在する。一方、本測定システムは非接触測定であり、レーザの照射領域全体のひずみ分布を測定することができるため、有効範囲が広い。しかし、この測定システムは光源にHe-Neレーザを使用していたため、システムの操作が頻雑であり、実用的ではなかった。そこで、本研究では光源に半導体レーザを用いることで、システム全体の小型化とともに、操作性の向上したシステムを構成した。本論文では、本システムの妥当性を実験的に示す。