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散斑干涉与剪切散斑干涉的测量系统及测量方法

摘要

本发明提供一种散斑干涉与剪切散斑干涉的测量系统及测量方法,涉及光学测试技术领域。其特征在于:包括激光器和分束镜,所述激光器发射的激光经所述分束镜分为透射光和反射光;所述透射光经扩束镜扩束后照射至被测物形成漫反射光,所述反射光依次经光纤、透镜和分光棱镜后作为参考光进入光路;所述被测物表面的漫反射光依次经光阑、成像透镜和迈克尔逊剪切装置后,获得具有剪切量的两束物光;所述具有剪切量的两束物光和光纤引入的参考光在CCD相机的靶面上干涉,形成散斑干涉图。本发明可对被测物进行散斑和剪切的同步动态检测,是一种无损、全场、高精度的测量系统。

著录项

  • 公开/公告号CN110108223B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201910505285.7

  • 申请日2019-06-12

  • 分类号G01B11/16(20060101);

  • 代理机构11542 北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人余罡

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2022-08-23 11:56:48

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