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陈乐乐; 朱亮; 包大勇; 季高明; 蔡辉; 李东霞;
上海微系统与信息技术研究所;
上海200050;
上海宏力半导体有限公司;
上海201203;
蚀刻腔条件; SiO2刻蚀; 关键尺寸;
机译:蚀刻工艺对腔室表面条件敏感的特性和机理
机译:在等离子化学刻蚀工艺中研究气体流量对刻蚀层厚度的影响以及砷化镓各向异性场粗糙度的影响
机译:晶圆刻蚀工艺中等离子刻蚀腔室的维修计划
机译:先进的浮栅刻蚀工艺中刻蚀腔条件对临界尺寸偏移的影响
机译:腔室壁条件对等离子体蚀刻工艺的影响。
机译:使用化学蚀刻工艺对石墨烯上晶体氧化铁纳米颗粒的受控生成进行系统研究
机译:蚀刻剂对熔湿蚀刻蚀刻速率和质量对熔湿二氧化硅的蚀刻速率和质量影响的比较研究
机译:采用时间复用蚀刻 - 钝化工艺的高纵横比siC微结构深反应离子刻蚀(DRIE)
机译:真空沉积腔室的等离子体刻蚀原位清洗工艺-激发气体分别进行等离子体放电激发,并使活化的蚀刻气体进入腔室
机译:用于蚀刻蚀刻停止层的方法利用循环蚀刻工艺
机译:利用循环蚀刻工艺蚀刻蚀刻停止层的方法
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