X1525可靠性评估电路单管失效机理的研究

摘要

对Ｘ１５２５可靠性评估电路中的单管进行了三组不同应力的可靠性试验及温度为１２５°Ｃ、１７５°Ｃ、２２５°Ｃ的功率负荷试验。试验结果表明，温度和电应力能够改变Ｘ１５２５评估电路中单管的电参数分布，最终使其趋于某一特定值。