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Pb(Zr_(0.6)Ti_(0.4))O_3/YBa_2Cu_3O_(7-x)双层结构的制备及其特性的研究

摘要

我们通过脉冲激光淀积的方法在Y ZrO2 衬底上原位生长了Pb (Zr0 .6Ti0 .4 )O3/YBa2 Cu3O7-x双层薄膜 ,在此样品上利用电子探针分析了成分 ,X衍射谱证实了两层薄膜为单取向生长 .对Pb(Zr0 .6Ti0 .4 )O3薄膜的铁电性质进行了测试 ,得到了典型的电滞回线 ,并对介电常数和损耗角正切值随频率变化进行了测量 .

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