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CMOS IC抗闩锁能力的提高及闩锁能力的恒定

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本文提出CMOS IC闩锁模式,较为详细地讨论了出现闩锁现象的整个过程,并以此提出改进方法以及如何恒定CMOS IC的抗闩锁能力,其结论为:注入电流在30～50mA以上时,CMOS电路一般不会出现闩锁现象.

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来源
《半导体技术》 |1986年第1期|49-5260|共4页
作者
王建民; 邓敏坚;
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作者单位

常州半导体厂;

常州半导体厂;

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正文语种 chi
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