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黄影; 张春元; 刘东;
国防科学技术大学计算机学院,长沙,410073;
单粒子翻转; 现场可编程门阵列; 三模冗余; 错误代码校验; 空间电子干扰;
机译:SRAM基于SRAM的FPGA的SEU硬化电路的设计与表征
机译:基于SRAM的FPGA的SEU缓解的层次擦洗技术
机译:用于基于SRAM的FPGA的多个SEU的快速故障注入平台
机译:基于SRAM的FPGA对导航卫星的抗SEU效应设计评价方法
机译:研究反馈电阻之间的串扰对SRAM单元的SEU抗扰性的影响。
机译:使用基于SRAM的FPGA进行功率感知的高性能无线传感器网络
机译:区域驱动的部分重配置,用于基于sRam的FpGa上的sEU缓解
机译:sEU(单事件翻转)容忍存储器单元源自sRam中的sEU机制的基础研究(静态随机存取存储器)
机译:质子和重离子抗SEU SRAM
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