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PROTON AND HEAVY ION SEU RESISTANT SRAM

机译:质子和重离子抗SEU SRAM

摘要

A method and system is disclosed for reducing proton and heavy ion SEU sensitivity of a static random access memory (SRAM) cell. A first passive delay element has been inserted in series with an active delay element in a first feedback path of the SRAM cell, and a second passive delay element has been inserted in a second feedback path of the SRAM cell. The passive delay elements reduce the proton SEU sensitivity of the SRAM cell, and the active delay element reduces the heavy ion sensitivity of the SRAM cell. The passive delay elements also protect the SRAM cell against SEUs that may occur when the SRAM cell is in dynamic mode.
机译:公开了一种用于降低质子和重离子SEU对静态随机存取存储器(SRAM)单元的灵敏度的方法和系统。第一无源延迟元件已经与有源延迟元件串联插入到SRAM单元的第一反馈路径中,并且第二无源延迟元件已经被插入SRAM单元的第二反馈路径中。无源延迟元件降低了SRAM单元的质子SEU灵敏度,而有源延迟元件降低了SRAM单元的重离子灵敏度。无源延迟元件还可以保护SRAM单元免受SEU的影响,而SEU可能在SRAM单元处于动态模式时发生。

著录项

  • 公开/公告号EP1861854A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HONEYWELL INTERNATIONAL INC.;

    申请/专利号EP20050849402

  • 发明设计人 LIU HARRY;LIU MICHAEL;

    申请日2005-12-08

  • 分类号G11C11/412;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 20:00:19

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