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氩、氢混合等离子体处理对GaAs表面性质及发光特性的影响

         

摘要

介绍了一种氩、氢混合等离子体清洗GaAs基片的实验工艺,深入研究了氩、氢等离子体清洗GaAs表面污染物和氧化层,并活化表面性能的基本原理,同时讨论了气体流量、溅射功率和清洗时间等不同溅射参数对等离子体清洗效果的影响.结果表明,在氩气和氢气流量分别为10 cm3/min和30 cm3/min,溅射功率为20 W,清洗时间为15 min的条件下,GaAs样品的光致发光强度提高达139.12%,样品表面的As—O键和Ga—O键基本消失.

著录项

  • 来源
    《发光学报》 |2013年第3期|308-313|共6页
  • 作者单位

    长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春 130022;

    长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春 130022;

    长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春 130022;

    长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春 130022;

    长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春 130022;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 O472.1;
  • 关键词

    等离子清洗; GaAs基片; 发光强度;

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