NBTI效应及其对集成电路设计的影响

周晓明; 夏炎

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NBTI效应及其对集成电路设计的影响

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可靠性设计是现代集成电路设计需要考虑的一个重要问题.对影响电路可靠性的一个最主要效应--P-MOSFET的NBTI效应进行了系统的介绍.给出了不同电压、温度下器件性能随时问变化趋势的最新研究成果.最后介绍了SPICE考虑器件器件退化的电路模拟流程.在器件尺寸日益缩小的今天,这些将成为集成电路设计关注的焦点.

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来源
《电子器件》|2007年第2期|407-410|共4页
作者
周晓明; 夏炎;
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作者单位

东南大学集成电路学院南京芯力微电子有限公司,南京,210016;

东南大学集成电路学院南京芯力微电子有限公司,南京,210016;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TF331.1;
关键词
NBTI; 尺寸缩小; p-MOSFET; 集成电路设计;

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