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Impact of NBTI Recovery, Measurement System and Testing Time on NBTI Lifetime Estimation

机译：NBTI回收，测量系统和测试时间对NBTI寿命估计的影响

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Vincent King Soon WONG; Hong Seng NG; Poh Ching Sim;
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年度 2015
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1. NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions [J] . I. Manic, D. Dankovic, A. Prijic, Microelectronics reliability . 2011,第9a11期

机译：在静态和脉冲NBT应力条件下，p沟道功率VDMOSFET中与NBTI相关的退化和寿命估算
2. NBTI Lifetime Prediction and Kinetics at Operation Bias Based on Ultrafast Pulse Measurement [J] . Zhigang Ji, Lin L., Jian Fu Zhang, Electron Devices, IEEE Transactions on . 2010,第1期

机译：基于超快脉冲测量的NBTI寿命偏差和运行偏差动力学
3. Modeling of NBTI saturation effect and its impact on electric field dependence of the lifetime [J] . H. Aono, E. Murakami, K. Okuyama, Microelectronics & Reliability . 2005,第7a8期

机译：NBTI饱和效应的建模及其对寿命中电场依赖性的影响
4. Impact of NBTI Recovery, Measurement System and Testing Time on NBTI Lifetime Estimation [C] . Vincent King Soon WONG, Hong Seng NG, Poh Ching SIM International Conference on Advanced Manufacturing and Industrial Application . 2015

机译：NBTI回收，测量系统和测试时间对NBTI寿命估计的影响
5. Testing, diagnosis and repairing methods for NBTI-induced SRAM faults. [D] . Chen, Chiung-Hung. 2014

机译：NBTI引起的SRAM故障的测试，诊断和修复方法。
6. Developing and Testing a Bayesian Analysis of Fluorescence Lifetime Measurements [O] . Bryan Kaye, Peter J. Foster, Tae Yeon Yoo, -1

机译：开发和测试荧光寿命测量的贝叶斯分析
7. AC NBTI of Ge pMOSFETs: Impact of Energy Alternating Defects on Lifetime Prediction [O] . Ma, J, Zhang, WD, Zhang, JF, 2015

机译：Ge pMOSFET的AC NBTI：能量交替缺陷对寿命预测的影响
8. AC Loss Time Constant Measurements on Nb sub 3 Al and NbTi Multifilamentary Superconductors [R] . Painter, T. A. 1988

机译：Nb sub 3 al和NbTi复丝超导体的交流损耗时间常数测量

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