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黄彬;
桂林理工大学;
半导体器件; DLTS测试; 评价系统; 瞬态变化;
机译:DLTS和Laplace-DLTS在高电阻率半导体缺陷表征中的应用
机译:半导体器件关系在与日本半导体制造设备协会相关的第二年半导体器件的九十年半导体器件中的关系。预测
机译:用于半导体器件的AG-Rouin半导体器件280个H材料的半导体热研究。
机译:Dlts在半导体器件故障分析中的应用
机译:用于确定半导体器件中陷阱参数的深层瞬态光谱法(DLTS)
机译:半导体:高性能有机半导体器件的接口设计原理(Adv。Sci。6/2015)
机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究
机译:半导体器件中量子输运的建模(超亚微米长半导体器件的物理和操作)。
机译:DLTS样品结构,DLTS测量方法和半导体器件
机译:在没有半导体系统的情况下,可以使用半导体检查系统研究集成的a和二分之一的导体检查方法
机译:DLTS测量装置和DLTS测量装置的管理方法
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