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机译:DLTS和Laplace-DLTS在高电阻率半导体缺陷表征中的应用
negative-U; Laplace-DLTS; high-resistivity silicon; LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY; IRRADIATED SILICON; VACANCY; STATISTICS; DIVACANCY; ELECTRON; LIFETIME;
机译:DLTS和Laplace-DLTS在高电阻率半导体缺陷表征中的应用
机译:使用Laplace-DLTS表征Cz和掺杂Ga或B的外延Si中产生的缺陷
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机译:使用深能级瞬态光谱(DLTs)和Laplace-DLTs(LDLTs)通过3keV ar溅射在sb掺杂Ge中引入缺陷的表征
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