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四点共线探针测试电路在高电阻率半导体测量中的应用

         

摘要

cqvip:本文针对电阻率测量中广为应用的四点共线探针测量电路,进行了原理及结构分析,给出了恒流源电路设计。同时,说明在高阻测量过程中,SMU电路配置,实际项目生成,以及在高阻测量设备中的应用特点等问题。

著录项

  • 来源
    《内江科技》 |2019年第7期|2711|共2页
  • 作者

    张琦; 周杰; 于庆;

  • 作者单位

    西安派瑞功率半导体变流技术股份有限公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
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